NES8100系列高溫反偏老化測試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介：

是一款適用于各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）微波器件的高溫反偏老化測試系統(tǒng)，系統(tǒng)滿足雙電源 型GaN類、微波MOS管等半導(dǎo)體分立器件的高溫反偏/柵偏試驗(yàn)（HTRB/HTGB）和高溫漏電流測試（HTIR）。NES8100系列采用高 品質(zhì)的GWS的PH-201型號(hào)高溫箱，最高長期穩(wěn)定工作溫度為175℃；具備測試通道多的特點(diǎn)，單系統(tǒng)16CH支持單管芯器件640 工位測試；支持電壓200V單偏置或雙偏置的高溫反偏試驗(yàn)(HTRB)和老煉篩選。NES8100系列為半導(dǎo)體器件高溫反偏測試定制開 發(fā)專用軟件，集成自動(dòng)調(diào)節(jié)加電模式、在線調(diào)節(jié)加電模式、加載時(shí)序控制、自動(dòng)保護(hù)器件、數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)監(jiān)控等多種功能。

NES8100系列高溫反偏老化測試系統(tǒng)主要特點(diǎn)：

支持高溫反偏/柵偏試驗(yàn)（HTRB/HTGB）和高溫漏電流測試（HTIR）

GWS單高溫箱結(jié)構(gòu)，長期穩(wěn)定工作溫度為175℃

雙一級(jí)電源供電，Vd為200V；Vg為±15.0V

NGI品牌高精度測試電源，高精度、低紋波

Vg電源單機(jī)四通道，高集成度

Vg采用UPS供電的二級(jí)電源設(shè)計(jì)，軟硬件時(shí)序控制

單系統(tǒng)16CH支持單管芯器件640工位測試

自動(dòng)調(diào)節(jié)、在線調(diào)試多種加電模式，加載時(shí)序控制

數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)監(jiān)控、全程記錄，測試數(shù)據(jù)快速溯源

單工位Vd均加繼電器自動(dòng)保護(hù)，器件測試更安全
規(guī)格參數(shù)表：